鍍層測(cè)厚儀的分類及功能

鍍層測(cè)厚儀主要有以下幾類:
1
、x-射線熒光測(cè)厚儀

2
、β-射線測(cè)厚儀

3
、庫侖測(cè)厚儀

下面主要介紹一款x-射線熒光測(cè)厚儀

德國(guó)Compact eco X-射線熒光分析測(cè)厚儀
Compact ecoX-
射線熒光分析測(cè)厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優(yōu)越,而且價(jià)錢超值,分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,甚是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實(shí)用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,飾,端子等行業(yè)的. 備有Compact eco , Compact 5Mixx4 , Mixx5等型號(hào)選擇,可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成份分析,電鍍液成份分析,中文簡(jiǎn)體、繁體、英文操作系統(tǒng)。

可測(cè)元素范圍:

(Ti) –
(U)
可測(cè)量厚度范圍:

原子序22-25
0.1-0.8μm
26-40
,
0.05-35μm
43-52
0.1-100μm
72-82
,
0.05-5μm
自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量

修正測(cè)量功能:底材修正,已知樣品修正

定性分析功能:光譜表示,光譜比較

定量分析功能:合金成份分析

數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能:x管理圖,x-R管理圖,直方柱圖。
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析三層厚度,的FP分析軟件,真正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標(biāo)準(zhǔn)片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件。
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液。
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量。
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度。
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì)。

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